OTDR ：光纤测试方案（短光纤测试）及OM4光纤介绍 首先来看一下当前数据中心的情况，10G 已经不是什么新鲜事物了，而介质这块，铜缆双绞线也开始6A 化，光纤也逐步升级，而数据中心里的大部分光纤链路都小于200米，这使得基于VCSEL 的850nm 光收发器可以被大量使用，配合OM3光纤，光纤方案的成本更为降低，也使OM3成为万兆速率数据中心的首选。 如表格1表格2所示，OM3光纤（MM50 um MBW=2000），在同样插入损耗的情况下，与OM2 和OM1光纤相比，OM3光纤的传输距离可以更远。而通道最大距离与模式带宽和通道最大插入损耗相关。例如，对于一个使用850nm OM3光纤的300米10GBase-SR 链路而言，所能被允许的最大插入损耗是2.6分贝，而在1000BASE-SX 网络中则为3.56分贝，可以预见随着速率不断提升，损耗这块的要求也越来越高了。而即使是在这2.6分贝的最大允许损耗中，也被分为光纤本身所固有的损耗，以及光纤连接和连接器损耗。
伴随数据中心TIA-942推行的结构化光布线系统的发展，在带来灵活易用的同时，也对光纤测试带来了新的内容，引入的结构化布线，增加了连接器件，对接头连接器的插入损耗有了更高的要求。
那么下面先来谈一下数据中心短光纤的测试面临的新的问题：
从目前光纤链路的测试来看，主要分成两个等级，第一等级为OLTS 测试，第二等级为OTDR 测试；从实际验收来看更多的采用的是OLTS 测试，即光源和光表的测试方式，其原因除了测试设备相对价格低廉有关外，也和其使用简易程度有关，相对来说，使用第二级别的OTDR 测试仪需要更专业的知识，需要读懂的曲线图，并且判定故障原因，这绝非简单培训就可以上手的工作。 另外，不论部署结构化光布线网络，还是模块化高密度MPO 方案时，多模光纤都被大量运用，此时用光纤元件标准测试通过，而用应用标准测试则不一定过，两类标准门限值有所不同，测试时选标准不当，也会给后续网络运行埋下故障隐患。
不仅如此，在选用OTDR （Optical Time Domain Reflectometer,简称OTDR ）测试仪时，死区的问题也是不能忽略的一大问题，OTDR 的死区分为事件死区和衰减死区，事件死区代表OTDR 所能检测到的光缆的最短长度。死区越短，可检测到的光缆长度就越短。如果事件死区比被测的光缆长度要短，那么就可以使用OTDR 来测试这条链路。而衰减死区一般要大于事件死区，它的定义是可以测得的连续两个事件插入损耗数值的最小距离。
数据中心内网络的光缆链路通常都非常短，同时通道里还会有多个连接器和短的跳线。在进行光缆测试时，应该使用具有短事件死区和衰减死区的OTDR 测试仪。
例如，假设正在测试的光缆链路包含一根三米长的跳线，如果你的OTDR 事件死区指标为5米，OTDR 将会只检测到跳线的起始端，而检测不到终点。如果您使用的OTDR 事件死区为2 米，您就可以同时看到跳线的两端。这时你就可以正确地测量链路中安装的跳线的长度并进行文档备案。
针对上述数据中心短光纤链路测试中的问题，那么具体如何进行测试呢？ 建议可以按如下几个原则进行测试：
1. 用OLTS （Optical Loss Test Set，简写OLTS ）光源、光表测量链路损耗，用OTDR 测量长度。由于使用光源、光表测量链路损耗接近于标准损耗测量方法，最接近真实网络运行状况，所以损耗测量精度可以得到保障。而单单通过OTDR 测试仪进行损耗测试，因为原理上它是借助测量背向瑞利散射光，距离越远，测量精度越难以保障。而在OTDR 测试仪的量程选择上也非越大越好，一般选为被测光纤长度的两倍以上，如设置太大，会增加测试时间，并会增加测量误差。脉宽选择也需要做限制，宽脉冲发射光功率大，测的距离远，信噪比好，但测距空间分辨率低；而窄脉冲信噪比差，测距空间分辨率高，因此，一般测短距离光纤选窄脉冲，长距离时才选宽脉冲。
2. OLTS 测试时，使用卷轴，这样在实际测试是，可以滤除高次模，提高测试稳定性，避免测试结果出现时大时小，不稳定的状况，当然测试前需要在做基准
OTDR ：光纤测试方案（短光纤测试）及OM4光纤介绍 首先来看一下当前数据中心的情况，10G 已经不是什么新鲜事物了，而介质这块，铜缆双绞线也开始6A 化，光纤也逐步升级，而数据中心里的大部分光纤链路都小于200米，这使得基于VCSEL 的850nm 光收发器可以被大量使用，配合OM3光纤，光纤方案的成本更为降低，也使OM3成为万兆速率数据中心的首选。 如表格1表格2所示，OM3光纤（MM50 um MBW=2000），在同样插入损耗的情况下，与OM2 和OM1光纤相比，OM3光纤的传输距离可以更远。而通道最大距离与模式带宽和通道最大插入损耗相关。例如，对于一个使用850nm OM3光纤的300米10GBase-SR 链路而言，所能被允许的最大插入损耗是2.6分贝，而在1000BASE-SX 网络中则为3.56分贝，可以预见随着速率不断提升，损耗这块的要求也越来越高了。而即使是在这2.6分贝的最大允许损耗中，也被分为光纤本身所固有的损耗，以及光纤连接和连接器损耗。
伴随数据中心TIA-942推行的结构化光布线系统的发展，在带来灵活易用的同时，也对光纤测试带来了新的内容，引入的结构化布线，增加了连接器件，对接头连接器的插入损耗有了更高的要求。
那么下面先来谈一下数据中心短光纤的测试面临的新的问题：
从目前光纤链路的测试来看，主要分成两个等级，第一等级为OLTS 测试，第二等级为OTDR 测试；从实际验收来看更多的采用的是OLTS 测试，即光源和光表的测试方式，其原因除了测试设备相对价格低廉有关外，也和其使用简易程度有关，相对来说，使用第二级别的OTDR 测试仪需要更专业的知识，需要读懂的曲线图，并且判定故障原因，这绝非简单培训就可以上手的工作。 另外，不论部署结构化光布线网络，还是模块化高密度MPO 方案时，多模光纤都被大量运用，此时用光纤元件标准测试通过，而用应用标准测试则不一定过，两类标准门限值有所不同，测试时选标准不当，也会给后续网络运行埋下故障隐患。
不仅如此，在选用OTDR （Optical Time Domain Reflectometer,简称OTDR ）测试仪时，死区的问题也是不能忽略的一大问题，OTDR 的死区分为事件死区和衰减死区，事件死区代表OTDR 所能检测到的光缆的最短长度。死区越短，可检测到的光缆长度就越短。如果事件死区比被测的光缆长度要短，那么就可以使用OTDR 来测试这条链路。而衰减死区一般要大于事件死区，它的定义是可以测得的连续两个事件插入损耗数值的最小距离。
数据中心内网络的光缆链路通常都非常短，同时通道里还会有多个连接器和短的跳线。在进行光缆测试时，应该使用具有短事件死区和衰减死区的OTDR 测试仪。
例如，假设正在测试的光缆链路包含一根三米长的跳线，如果你的OTDR 事件死区指标为5米，OTDR 将会只检测到跳线的起始端，而检测不到终点。如果您使用的OTDR 事件死区为2 米，您就可以同时看到跳线的两端。这时你就可以正确地测量链路中安装的跳线的长度并进行文档备案。
针对上述数据中心短光纤链路测试中的问题，那么具体如何进行测试呢？ 建议可以按如下几个原则进行测试：
1. 用OLTS （Optical Loss Test Set，简写OLTS ）光源、光表测量链路损耗，用OTDR 测量长度。由于使用光源、光表测量链路损耗接近于标准损耗测量方法，最接近真实网络运行状况，所以损耗测量精度可以得到保障。而单单通过OTDR 测试仪进行损耗测试，因为原理上它是借助测量背向瑞利散射光，距离越远，测量精度越难以保障。而在OTDR 测试仪的量程选择上也非越大越好，一般选为被测光纤长度的两倍以上，如设置太大，会增加测试时间，并会增加测量误差。脉宽选择也需要做限制，宽脉冲发射光功率大，测的距离远，信噪比好，但测距空间分辨率低；而窄脉冲信噪比差，测距空间分辨率高，因此，一般测短距离光纤选窄脉冲，长距离时才选宽脉冲。
2. OLTS 测试时，使用卷轴，这样在实际测试是，可以滤除高次模，提高测试稳定性，避免测试结果出现时大时小，不稳定的状况，当然测试前需要在做基准